為半導體封裝領域以及 3C 精密零件提供高效測量的解决方案 HVO Series 是一個一體化解决方案，配備了强大的工具，涵盖AOI、SPI 和CMM 應用的檢測和測量。HVO Series 採用HMS 技術，可抑制高反光元件表面的反射光線，呈現出優異的2D-3D 圖像品質。HVO Series 满足具有非常高質量要求的應用，為半導體領域以及3C 電子等行業提供高效測量的解决方案。

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